晶圆和薄膜电阻率测量探头

MPP是四点探头的领先供应商，可用于晶圆电阻率以及导电薄膜的加工制造。

我们的探头在全球已使用多年，可用于最负盛名的晶圆电阻率测量设备上。

我们可制造一整套复杂探头组件（主体，布线和针），可用于定制的高精密设备上。

经过多年经验的积累，我们的专业技术人员可装配出高精度的优质探头，用于满足市场上的短期交付使用要求。

顶针之间的间隙范围可达到：0.635mm--1.591 mm（紧密度容限：+/-0.005mm）。
顶针压力范围在：50g --200g（紧密度容限：+/-1g）。

根据需求，我们只提供顶针，我们的顶针在市场上属于优质顶针，它的超细抛光顶针的顶部半径可从0.025mm -- 0.635mm。

针尖半径尺寸范围：0.025mm--0.635mm。